島津 掃描型X射線熒光光譜儀 XRF-1800型
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產(chǎn)品介紹
XRF-1800型
250μm微區(qū)分布成像分析功能!
XRF-1500/1700系列X射線熒光光譜儀是在首先開發(fā)出微區(qū)分析/分布分析功能,采用了4KW薄窗X射線管,擴(kuò)大了X射線熒光分析的應(yīng)用領(lǐng)域,作為具有革命性的儀器而得到了很高評(píng)價(jià),業(yè)已銷售200余臺(tái)。
掃描型X射線熒光光譜儀 XRF-1800型從儀器的硬件與軟件在許多細(xì)節(jié)都進(jìn)行了改進(jìn),使得儀器的可靠性與可操作性更進(jìn)一步提高,增加了250μm微區(qū)分布成像分析功能,從而達(dá)到更高水平的程度。作為高靈敏度和微區(qū)分析的開拓者,島津公司非常自信地向用戶奉獻(xiàn)出XRF-1800型X射線熒光光譜儀。
· 在波長色散型裝置中,250μm微區(qū)分布成像分析功能(已取得專利)可分析不均勻樣品的含量分布、強(qiáng)度分布。
· 利用高次譜線進(jìn)行準(zhǔn)確的定性/定量分析(專利申請(qǐng)中)
高次譜線的判定更加準(zhǔn)確,提高了定性定量分析的準(zhǔn)確度/可靠性。
· 測(cè)定高分子薄膜的膜厚與無機(jī)成分分析的背景基本參數(shù)(BG-FP)法
利用康普頓散射/瑞利散射的強(qiáng)度比計(jì)算出熒光X射線分析不能得到的氫(H)元 素的信息。高分子薄膜分析中,利用康普頓散射線的理論強(qiáng)度作為高分子薄膜 的信息。
使用XRF-1800進(jìn)行的膜厚測(cè)定、薄膜測(cè)定實(shí)例
· 微區(qū)分析結(jié)構(gòu)
獨(dú)自開發(fā)的特殊形狀的滑動(dòng)式視野限制光欄,利用r方向滑動(dòng)與樣品旋轉(zhuǎn)控制的q轉(zhuǎn)動(dòng),可以在30mm直徑內(nèi)的任意位置進(jìn)行分析。· 利用CCD相機(jī)可以直接觀察樣品(選配件)
在測(cè)定室導(dǎo)入樣品的位置上,將樣品容器按照與測(cè)定位置相同的方式放置,通過CCD攝取樣品的圖像,可使測(cè)定位置與圖像相吻合。
(專利申請(qǐng)中)· 配備高可靠性、長壽命的4kW薄窗X射線管
配備平均壽命在5年以上的高可靠性X射線管。與傳統(tǒng)的3kWX射線管相比,輕元素的分析靈敏度提高2倍以上。· 集成島津技能精華的模塊功能,匹配分析功能
對(duì)應(yīng)于液體、粉末、固體、金屬、氧化物等不同形態(tài)的樣品具有相應(yīng)的分析條件,在這基礎(chǔ)上可編制的分析條件??筛鶕?jù)不同材質(zhì)
判定、品種分類、品種判定、一致性檢索這4種匹配功能進(jìn)行判定、檢索。※如有外觀及規(guī)格變動(dòng),恕不另行通知。
產(chǎn)品展示
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